3 استاندارد ملی فناوری نانو تدوین شد
تهران - ایرنا - سه استاندارد ملی جدید در حوزه راهنمای «کاربرد بیضی سنجی برای سنجش ضخامت فیلم‌های نانومقیاس»، «مشخصه‌یابی ساختاری گرافن» و «آنالیز اندازه ذرات - پراکندگی پرتو ایکس زاویه کوچک (SAXS)» در اجلاسیه کمیته ملی استانداردهای فناوری نانو تدوین شد.
به گزارش گروه علم و آموزش ایرنا از ستاد ویژه توسعه فناوری نانو، این سه استاندارد ملی در جلسات صد و یازدهمین و صد و دوازدهمین اجلاسیه کمیته ملی استانداردهای فناوری نانو تدوین و تصویب شد.
استاندارد «فناوری نانو - راهنمای کاربرد بیضی سنجی برای سنجش ضخامت فیلم‌های نانومقیاس»؛ این استاندارد، به پروتکل عملی برای بیضی سنجی به منظور سنجش ضخامت فیلم‌های نانومقیاس می‌پردازد.
این استاندارد هیچ یک از ویژگی‌های بیضی سنج‌ها را شامل نمی‌شود اما پیشنهاداتی در مورد چگونگی کمینه کردن تغییرات داده برای بهبود تجدیدپذیری داده ارائه می‌کند.
استاندارد «فناوری نانو - مشخصه‌یابی ساختاری گرافن - گرافن حاصل از پودرها و پراکنه‌ها -» استاندارد دیگری است که تصویب شد. این استاندارد، به تعیین توالی روش‌ها برای مشخصه‌یابی خواص ساختاری گرافن، گرافن دو لایه و نانوصفحه‌های گرافن حاصل از پودرها و پراکنه‌های مایع می‌پردازد که به طور معمول با استفاده از گستره‌ای از فناوری‌های اندازه‌گیری پس از جداسازی پرک‌های مجزا روی یک زیرلایه مشخص می‌شود.
این خواص شامل تعداد لایه‌ها / ضخامت، اندازه جانبی پرک، سطح بی‌نظمی، هم‌ترازی لایه‌ها و مساحت سطح ویژه آن است، در این استاندارد پروتکل‌های اندازه‌گیری، روند آماده‌سازی نمونه و تحلیل داده‌ها برای مشخصه‌یابی گرافن حاصل از پودرها و پراکنه‌ها ارائه می‌شود.
استاندارد «آنالیز اندازه ذرات - پراکندگی پرتو ایکس زاویه کوچک (SAXS)» روشی را برای کاربرد پراکندگی پرتو ایکس زاویه کوچک (SAXS) به منظور تخمین میانگین اندازه ذرات در مقیاس نانو تعیین می‌کند.
این روش در پراکنه‌های رقیق که اثرات برهمکنش و پراکندگی بین ذرات قابل اغماض است، کاربرد دارد. این استاندارد چندین روش ارزشیابی داده ذیل را بیان می‌کند: تقریب گوینیر، برازش داده مبتنی بر مدل، برازش داده مبتنی بر مونت کارلو، تبدیل فوریه غیرمستقیم و روش بیشینه‌سازی انتظار. سپس مناسب‌ترین روش ارزشیابی موردنظر توسط آنالیزگر انتخاب شده و در گزارش ارائه می‌شود.